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簡要描述:高溫介電溫譜儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析,包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù),同時(shí)測試出測試材料的其它阻抗參數(shù),廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
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高溫介電溫譜儀可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線,時(shí)間和電壓變化的曲線
一、產(chǎn)品優(yōu)勢:
1.耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好.
2.四通道測試,可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品,方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
二、符合標(biāo)準(zhǔn)
《符合ASTMD150和 D2149-97標(biāo)準(zhǔn)》
<<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法;》
三、高溫介電溫譜儀產(chǎn)品特點(diǎn)
1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能;
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能;
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗,電容C,損耗D,電感L,品質(zhì)因數(shù)Q,阻抗Z等物理量;以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線,時(shí)間和電壓變化的曲線;
4、可提供塊體,薄膜,單樣品,四樣品夾具,滿足不同測試要求。
特點(diǎn):
測量溫度:室溫-1000°C | 升溫斜率:2°C/min |
頻率范圍:20-30MHZ | 精度:0.05% |
測量精度:±0.1°C | 控溫精度:±1°C(PID精準(zhǔn)控溫) |
高溫樣品桿:耐高溫、1000°C不氧化,電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法:兩線法或四線法 |
測試通道數(shù):1-4通道 | 一次可測樣品數(shù):1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸:直徑小于2-10mm,厚度小于1-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸 | 測量精度:0.05% |
AC電平:0V 到 1V rms | 直流偏壓:0到±40V/100mA |
數(shù)據(jù)存儲:EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式:電阻絲加熱 |
真空度范圍:100 Pa-1大氣壓 | 電極材料:鉑金 |
數(shù)據(jù)傳輸:4個(gè)USB接口 | 儀器通訊:USB或GPIB |
技術(shù)指標(biāo):
1、電極直徑:6mm 數(shù)量:1個(gè)
2、電機(jī)屏蔽:內(nèi)徑--304不銹鋼 外徑--聚四氟
3、測試電極:一通道
4、切換頻率:可以自由設(shè)定試樣切換時(shí)間
5、試驗(yàn)方式:手動模式 自動模式
6、試驗(yàn)數(shù)據(jù):可導(dǎo)出測試原始數(shù)據(jù),同時(shí)可以輸出測試曲線及打印試驗(yàn)報(bào)告
7、測量頻率:以實(shí)際電橋?yàn)闇?zhǔn)
8、溫度范圍:0-1000℃ K型熱電偶:0.5%
9、溫度精度:±0.25°C
10、加溫速率:1℃--20℃/min
11、數(shù) 據(jù) 線:銅鍍銀,高低溫屏蔽線
12、機(jī) 箱:Q235鋼板表面高溫噴塑而成
13、儀器供電:AC:220V 50Hz 功率:2KW
14、測試電橋:國產(chǎn)
15、試驗(yàn)環(huán)境:請不要在多塵、多震動、日光直曬、有腐蝕氣體下使用。
儀器使用時(shí)應(yīng)遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場,以免干擾實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
整機(jī)組成:
1、加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內(nèi)部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能
2、控制系統(tǒng):可實(shí)現(xiàn)對溫控升溫控制,實(shí)時(shí)測控測試數(shù)據(jù)
3、LCR電橋:國產(chǎn)
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